HSBC Daily Trading
 

 

Drohendes Doppeltop

Den im Philadelphia Semiconductor Index (SOX) zusammengefassten Halbleiterwerten kommt oftmals eine konjunkturelle Vorlauffunktion zu. Diese Eigenschaft könnte sich aktuell als Achillesferse des gesamten Aktienmarktes erweisen, denn die charttechnische Ausgangslage dieses frühzyklischen Sektors muss als angeschlagen bezeichnet werden. Doch der Reihe nach: Das Februarhoch bei 3.269 Punkten konnte der Index im April nur kurzfristig überwinden (3.314 Punkte). Da beide Hochs zudem fast auf dem identischen Level liegen, ergibt sich daraus eine mögliche Doppeltop-Gefahr (siehe Chart). Vor diesem Hintergrund sollten Investoren die Haltezone aus der 38-Wochen-Linie (akt. bei 2.766 Punkten) und dem Märztief bei 2.759 Punkten unbedingt beachten. Schließlich würde ein Bruch dieser Schlüsselzone die drohende obere Umkehr komplettieren. Im Fall einer negativen Weichenstellung ergibt sich ein kalkulatorisches Abschlagspotenzial von rund 500 Punkten. Zusätzliche Warnsignale senden derzeit die quantitativen Indikatoren. So hat der MACD zuletzt ein sog. „bullish failure“ ausgeprägt, während im Verlauf des RSI eine negative Divergenz vorliegt. Deshalb muss die o. g. Schlüsselzone unbedingt verteidigt werden.

Philadelphia Semiconductor Index (Weekly)

Chart Philadelphia Semiconductor Index

Quelle: Refinitiv, tradesignal²

 

5-Jahreschart Philadelphia Semiconductor Index

Chart Philadelphia Semiconductor Index

Quelle: Refinitiv, tradesignal²

Interesse an einer täglichen Zustellung unseres Newsletters?

Kostenlos abonnieren

Wichtige Hinweise
Werbehinweise

HSBC Trinkaus & Burkhardt AG
Derivatives Public Distribution
Königsallee 21-23
40212 Düsseldorf

kostenlose Infoline: 0800/4000 910
Aus dem Ausland: 00800/4000 9100 (kostenlos)
Hotline für Berater: 0211/910-4722
Fax: 0211/910-91936
Homepage: www.hsbc-zertifikate.de
E-Mail: zertifikate@hsbc.de

2)Transaktionskosten und Ihr Depotpreis (soweit diese anfallen) sind in der Darstellung nicht berücksichtigt und wirken sich negativ auf die Wertentwicklung der Anlage aus.